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高频红外碳硫分析仪下空白试验

来源:竞博国际  发布时间:2013年05月24日  字体大小:[大] [中] [小]

高频红外碳硫分析仪下空白试验

频红外碳硫分析仪使用中我们是将锡囊置于坩埚中,将锡囊轻轻压向坩埚的底部,加入与试样等量的纯铁和加速剂。处理坩埚并测定含量。

得到空白试验读数并利用校准线换算为碳的mg数。

由空白试验中的碳含量减去纯铁中的碳含量得到空白值。

平均空白值(m1)2个空白值计算得到。

注:⑴应用校准曲线锡囊制备

锡囊的制备:用微量移液管吸取100μl水注入锡囊)中,在90℃烘干2小时。

⑵加速剂的加入量,取决于仪器的性能和分析的材料类型。一般来说,其用量只要试样充分燃烧即可。

⑶两个空白的误差和平均空白值都不得超过0.01mg碳,如果异常高,应查明并清除污染源。

引起系统空白的因素很多,不同时期由于材料批次不同,空白值也不相同,因此在分析低含量样品前必须进行空白校正。下面我们推荐如下的测试空白方法,一般在未求校正值之前测试空白值,用同一瓶氧气,固定量的助溶剂空白值基本一致,操作方法与求校正值相同。由频红外碳硫分析仪结果计算公式可知,为获得满意的低含量分析结果,还需注意:测试空白值所键入的重量应与实际测试样品的重量相同。来文来自:竞博国际技术部    www.njhxfxy.com
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